TOPTEST hat ein eigenes PXI-Testsystem entwickelt:
Wir entwickeln und fertigen auf Basis einer etablierten Schnittstelle Ihren projektspezifischen Testadapter:
Wir erstellen die Prüfsoftware für Ihre Anwendung:
Wir integrieren für Sie USB-Testhardware in Ihr System:
Der eloZ1 Manufacturing Defects Analyzer ist ein In-Circuit-Tester der neuesten Generation. Er findet zuverlässig Verbindungsfehler und Bestückungsfehler von elektronischen Baugruppen. Die Testelektronik kann sowohl in Tischsysteme als auch in Inline-Systeme integriert werden.
Der eloZ1 ist modular aufgebaut. Stimulieinheiten und Schaltfeldeinheiten sind als Steckmodule ausgeführt. Es gibt verschiedene Container-Typen, die sich durch die Anzahl der Steckplätze und die Anzahl der Controller unterscheiden. Dieser modulare Aufbau ermöglicht es, die Ausstattung des Testsystems der jeweiligen Testaufgabe anzupassen. Eine enorme Perfomancesteigerung kann durch paralleles Testen erreicht werden. Der eloZ1 erlaubt es, mehrere Controller einzusetzen, um Testaufgaben simultan abzuarbeiten. An einem LAN-Anschluss können bis zu sieben Controller angeschlossen werden. Durch weitere LAN-Anschlüsse können auch weitere Controller eingesetzt werden.
Wir entwickeln und fertigen für Sie Testadapter für Ihre vorhandene Schnittstelle inklusive Dokumentation und Testprogramm:
Die Einbindung einer Flash- oder Microcontroller-Programmierung kann auf unterschiedlichste Art und Weise erfolgen, abhängig von Art und Umfang der Anwendung.
Boundary Scan ist ein leistungsfähiges Testverfahren für digitale Schaltungsteile.
Die von uns für die Boundary-Scan-Implementierung verwendeten Hardware- und Softwarekomponenten stammen aus dem Hause Göpel electronic.