TOPTEST PXI-Testsystem

TOPTEST PXI - Testsystem

Sie möchten Ihre Leiterplatte programmieren oder auf Funktion prüfen?

Testsystem

TOPTEST hat ein eigenes PXI-Testsystem entwickelt:

• 19'' Rack
• Meß- und Stimulikarten, DMM von National Instruments
• Relaiskarten von Pickering
• Netzteil von Rohde und Schwarz (Hameg)
• Integration zusätzlicher Protokollkarten RS232, RS485, CAN und CANopen
• optional Boundary Scan
• Integration weiterer Testhardware

Testadapter

Wir entwickeln und fertigen auf Basis einer etablierten Schnittstelle Ihren projektspezifischen Testadapter:

• Erstellung der Testadapterfertigungsunterlagen
• Integration eventueller zusätzlicher Hardwarekomponenten innerhalb des Adapters (Programmiergeräte, Schnittstellen, Relais, Boundary Scan)
• Herstellung des Testadapters durch unsere Adapterbau-Partnerfirmen ATX oder Hatec

Testsoftware

Wir erstellen die Prüfsoftware für Ihre Anwendung:

• Analyse der Testproblematik und Aufzeigen geeigneter Testlösungen
• Programmierung und Debuggen des Funktionstestprogramms mit NI LabVIEW
• Einbindung von Programmiergeräten
• Verifizierung der Tests in unserem LabVIEW-Programmrahmen für den automatischen Testablauf
• Bei größeren Anwendungen ggf. Einbindung der Tests in NI Teststand für den automatischen Testablauf
• Entwicklung oder Installation der Druckerkommunikation und Logsysteme
• Systemtests (ggf. auch vor Ort)
• Erstellung der Dokumentation
• Installation vor Ort

USB lösungen

USB - Testhardware

Sie möchten USB-Hardware in Ihrem Testsystem verwenden?

Wir integrieren für Sie USB-Testhardware in Ihr System:

• Prüfplätze mit USB-Hardware
• Hardwaresteuerung von Adaptern mit USB-I/O
• Flash- und Microprozessor-Programmer

elowerk eloZ1

Testsystem elowerk eloZ1

Wollen Sie sich ein neues ICT/FKT-Testsystem anschaffen?

Der eloZ1 Manufacturing Defects Analyzer ist ein In-Circuit-Tester der neuesten Generation. Er findet zuverlässig Verbin­dungsfehler und Be­stückungsfehler von elektronischen Baugrup­pen. Die Testelektronik kann sowohl in Tischsysteme als auch in Inline-Systeme integriert werden.

Der eloZ1 ist modular aufgebaut. Stimulieinheiten und Schaltfeldeinheiten sind als Steckmodule ausgeführt. Es gibt verschiedene Container-Typen, die sich durch die Anzahl der Steckplätze und die Anzahl der Controller unterscheiden. Dieser modulare Aufbau ermöglicht es, die Ausstattung des Testsystems der jeweiligen Test­aufgabe anzupassen. Eine enorme Perfomancesteigerung kann durch paralleles Testen erreicht werden. Der eloZ1 erlaubt es, mehrere Controller einzusetzen, um Testaufgaben simultan abzuarbeiten. An einem LAN-Anschluss können bis zu sieben Controller angeschlossen werden. Durch weitere LAN-Anschlüsse können auch weitere Controller eingesetzt werden.

Wir erstellen für Sie Testprogramme und Testadapter:

• Analyse der CAD-Daten
• Einlesen der Daten in KERCAM
• Testpunktvergabe mit Kanalzuordnungen durch KERCAM
• Erstellung der Testadapterfertigungsunterlagen
• Integration eventueller zusätzlicher Hardwarekomponenten (Programmiergeräte, Schnittstellen, Relais)
• Herstellung des Testadapters
• Erstellung des ICT- und FKT-Testprogramms
• Erstellung der Dokumentation
• Installation und Debuggen vor Ort

Aeroflex 5300

Aeroflex Testsystem 52xx / 5300

Besitzen Sie ein 52xx- oder 5300-Testsystem von Aeroflex?

Wir entwickeln und fertigen für Sie Testadapter für Ihre vorhandene Schnittstelle inklusive Dokumentation und Testprogramm:

• Analyse der CAD-Daten
• Erstellung des Testpunktplans
• Testpunktvergabe mit Kanalzuordnungen
• Erstellung der Testadapterfertigungsunterlagen
• Integration eventueller zusätzlicher Hardwarekomponenten (Programmiergeräte, Schnittstellen, Relais)
• Herstellung des Testadapters durch unsere Adapterbau-Partnerfirmen
• Erstellung des ICT- und FKT-Testprogramms
• Systemtest
• Erstellung der Dokumentation
• Installation vor Ort

flash programmierung

Integration Flash- / Controller-Programmierung

Die Einbindung einer Flash- oder Microcontroller-Programmierung kann auf unterschiedlichste Art und Weise erfolgen, abhängig von Art und Umfang der Anwendung.

• USB-Anbindung
• Parallele Programmierung
• Programmierung über digitale I/O-Karten
• Erstellung der Scripte zur Integration in automatisierte Testabläufe
• Entwicklung von Treiber-DLLs, falls erforderlich
• Direkte Programmierung über Prüflingsschnittstelle beispielsweise über eine CAN-Schnittstelle

boundary scan

Boundary Scan

Boundary Scan ist ein leistungsfähiges Testverfahren für digitale Schaltungsteile. Die von uns für die Boundary-Scan-Implementierung verwendeten Hardware- und Softwarekomponenten stammen aus dem Hause Göpel electronic.

• Integration der Hardware: Controller, I/O-Modul, TAP-Transceiver
• CASCON-Entwicklungsumgebung
• Integration CASCON-DLLs
• Einbindung der digitalen Testpunktkarten der Aeroflex 5800
• Testintegration

NI LabVIEW

Testprogrammierung mit National Instruments LabVIEW

National Instruments stellt mit LabVIEW einen Industriestandard zur Entwicklung einer Testumgebung zur Verfügung.
Unsere Mitarbeiter verfügen über langjährige Erfahrung auf vielen Gebieten dieser Entwicklungsumgebung.

Unser Schwerpunkt liegt im Bereich automatische Testsysteme.

• Erstellung einzelner VIs (virtuelle Instrumente)
• Entwicklung von Bedienoberflächen
• Integration externer Hardware wie Programmiergeräte, Power Supplies
• CAN, CANopen und sonstige Protokolle
• Einbindung von Scriptdateien zur Teststeuerung - für Testablaufsänderungen ohne LabVIEW-Kenntnisse
• Statemachines / Sequencer zur Ablaufsteuerung der Test-VIs
• Erstellung von .NET-Assemblies zur Integration in Aeroflex AIDE
• VIs für TestStand-Applikationen
• RIO (rekonfigurierbare IOs mit NI-RIO-FPGA-Hardware)
• Einrichtung der Erzeugung von Logdateien

NI TestStand

Automatisches Testen mit National Instruments TestStand

TestStand von National Instruments ist eine Standardsoftware für automatisiertes Testen. Hier können über die Integration verschiedenster Hardware- und Softwaremodule (z.B. LabVIEW-VIs, C#-Module) komplexe, variable Testsysteme aufgebaut werden. Erstellte LabVIEW-VIs können wir einfach in TestStand für einen produktspezifischen Testablauf integrieren. Alle Funktionen, die bei einem automatischen Testablauf erforderlich sind, sind verfügbar. Parameter sind in der TestStand-Umgebung veränderbar. Die Benutzeroberfläche kann an Ihre Bedürfnisse angepasst werden.

Einige Highlights von TestStand:

• Paralleles Testen
• Integration von PXI-Meß-, Stimuli- und Kommunikationskarten
• Optimierung der Ablaufsteuerung
• Integration Datalogging

Aeroflex AIDE

Aeroflex AIDE

Diese Programmierumgebung für analoge und digitale InCircuit- und Funktionstest ermöglicht eine hohe Testtiefe bei der Realisierung der Prüfaufgaben. Wir verfügen über langjährige und umfassende Erfahrungen im Umgang mit AIDE.

• Erstellung des ICT-Programms mit CAPG
• Einfügen in einen geeigneten Programmrahmen
• Anpassen der Pinmaps
• Debuggen des ICT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung des Funktionstestprogramms
• Debuggen des FKT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Implementierung des Göpel-Boundary Scan CASCON
• Programmierung von Zusatztools, Libraries und .NET Treiber
• Integration zusätzlicher PXI-Hardware

Aeroflex TPG

Aeroflex TPG

Diese Programmierumgebung für analoge und digitale InCircuit- und Funktionstest wurde für die Testergeneration 52xx und 5300 entwickelt. Seit bereits 25 Jahren sind wir im Bereich der Testprogrammentwicklung für diese Testsoftware tätig und verfügen über ein sehr breites Fachwissen unterschiedlichster Anwendungen.

• Erstellung des ICT-Programms mit eigenem Tool oder manuell (AIC oder UTP)
• Einfügen in einen geeigneten Programmrahmen (Einzeltests, Mehrfachnutzen)
• Debuggen des ICT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung des Funktionstestprogramms
• Debuggen des FKT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung von Zusatztools und Libraries
• Integration zusätzlicher Programier-Hardware

.NET und C#

.NET und C#

Die Programmiersoftware C# unter .NET ermöglichen die Entwicklung von Testprogrammen und Zusatzkomponenten.

• Eigenständige Testprogramme (in C# entwickelt)
• Entwicklung von Kommunikationsprotokollen
• Testprotokolle in kundenspezifischen Formaten (z.B. XML)
• Entwicklung von Tools für Testdiagnosen u.ä.
• .NET-Libraries für C# und AIDE
• Integration zusätzlicher Hardware z.B. PXI-Karten in das Testsystem Aeroflex 5800

TOPTEST DrillView

DrillView

DrillView dient der Erstellung und Anzeige von Testpunktplänen aus CadDaten

• Zur Visualisierung und Erstellung von Adapter-Bohrdaten, Testpunktplänen, sowie Unterstützung beim Verdrahten wurde DrillView in unserem Hause entwickelt.
• Flexible auch frei programmierbare Filter ermöglichen es nahezu alle Netzlisten-Datenformate einzulesen und zu verarbeiten.
• X-, Y-Koordinaten und Bezeichner des Testpunktes werden im Format 1:1 dargestellt. Der Ausdruck erfolgt über Windows-Druckertreiber ebenfalls in 1:1.
• Die Darstellung der Testpunkte wird in der für jeden freien Punkt definierbaren Bohrergrösse dargestellt.
• Frei wählbare Positionierung der Nutzenanordnung ermöglicht jede Anwendungsform von Mehrfachnutzen.
• Die Abstände zwischen den Punkten werden berechnet und können bei einen bestehenden Konflikt, dessen Schwellwert einstellbar ist, angezeigt werden. So wird sichergestellt, dass beim Adapter erstellen es zu keinen Fehlern kommt.
• Eine Demoversion ohne Speicherfunktion steht zum Herunterladen zur Verfügung

Download der Demo-Version

inline-systeme

Integration Inline-Testsysteme

Testsystem und Adapter können auch in Inline-Testsystemen integriert werden. Die zusätzliche Kommunikation kann über Schnittstellen (z.B. RS232, DLL) erfolgen. Wir haben bereits zahlreiche Integrationen für unterschiedliche Hersteller erstellt.

• Analyse der Testabläufe
• Entwicklung eines Steuerungsprotokolls mit der SPS des Handlers
• Berücksichtigung der Sicherheitsstandards

hochspannungstestplatz

Hochspannungstestplatz

Hochspannungstestplätze stellen hohe Anforderungen an den Sicherheitsaspekt. Wir gestalten diese Testplätze in Zusammenarbeit mit unseren Herstellern als autarke Testsysteme.

handprüfplatz

Handprüfplatz

Wir entwickeln für Sie auch Handprüfplätze, die bei Kleinserien Kosten sparen oder bei multiadaptiven Prüflingen erforderlich sind. Hierbei sind Prüflinge gemeint, die in der Regel nicht über ein Nadelbett, sondern über Steckverbindungen kontaktiert werden.

Handprüfplatz ohne Steuerung

• ohne Steuerungs-PC
• Bedienung über Tasten oder Schalter
• Systemanzeigen über LED oder Instrumente (DMM)

Handprüfplatz mit Steuerung

• Steuerung durch Software, z.b. LabVIEW